Autor: Anika Peucker / 2017
Laser-Speckle-Photometrie: Inline-Fehlersuche in der Hochleistungselektronik

Stellen Sie sich eine Keramikplatte vor, oben und unten mit Kupfer beschichtet, die mit metallischen Leiterbahnen bedruckt werden kann. Dann blicken Sie auf Ihren Monitor und sehen das unten gezeigte gesprenkelte Bild. Ziemlich viele Sprenkel. Zumindest an einigen Stellen. An anderen wiederum keine. Kaum zu glauben, dass die funktionalisierte Keramikplatte mit der Aufnahme etwas gemein haben könnte. Und noch abwegiger vielleicht: Wie lesen Wissenschaftler aus solchen Bilder nur Werkstoffkennwerte und Fehler ab?
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