Zuverlässigkeit von elektronischen Mikrosystemen

Für die Systemzuverlässigkeit von Elektronik, Mikrosystemen und technischen Anlagen bietet die Gruppe »Zuverlässigkeit von elektronischen Mikrosystemen« des Fraunhofer IKTS

• numerische Simulationen zur Designauslegung, 
• Materialcharakterisierungen von Einzel- und Verbundwerkstoffen der Aufbau- und Verbindungstechnik (AVT), 
• Zuverlässigkeitsbewertungen, 
• In-Situ Messungen von Beanspruchungen sowie 
• zerstörungsfreie Prüftechniken an. 

Bei der Auslegung von Baugruppen in Bezug auf die Systemzuverlässigkeit fokussieren wir auf

• die Messung, Berechnung und Analyse anliegender Belastungen sowie 
• deren Einfluss auf das Systemdesign.