VNA- und Resonator-Systeme: Präzise Messung dielektrischer Eigenschaften für Hochfrequenz-Anwendungen

Das Fraunhofer IKTS bietet eine umfassende Suite von Vektor-Netzwerkanalysatoren (VNA) und Resonatoren, mit denen die Anforderungen an Hochfrequenzmessungen unter 20 GHz erfüllt werden können. Wir sind spezialisiert auf Lösungen zur Charakterisierung einer Vielzahl zylindrischer und rechteckiger Proben aus verlustarmen Keramiken und Polymeren. Dabei nutzen wir Hohlraumresonatoren (< 20 GHz) und Split-Post-Dielektrikumresonatoren (5, 10 und 15 GHz). Dies ermöglicht eine präzise Analyse und Optimierung für diverse HF-Anwendungen.

• Relative Dielektrizitätskonstante (ε_r): Messgenauigkeit einer Probe mit der Dicke h und dem Durchmesser d Δε/ε=T*Δh/h+(2-T)*Δd/d für 0 < T < 2; T – Konstante der Messunsicherheit
• Dielektrischer Verlust (tanδ): Messgenauigkeit Δtanδ=±2*10^-6 oder ±0,03*tanδ; je nach Höhe der Werte
• Probendimension: 8-15 mm Durchmesser (d) und 4-7,5 mm Dicke (h), (Verhältnis D/h ist 2)

• Relative Permittivität (εr) bei 5, 10 und 15 GHz: Messgenauigkeit für eine Probe der Dicke h Δε/ε=± (0,0015 + Δh/h)
• Dielektrischer Verlust (tanδ) bei 5, 10 und 15 GHz: Messgenauigkeit Δtanδ=±2*10^-5 oder ±0,03*tanδ; je nach Höhe der Werte
• Probendimensionen: Substrate: 30 x 30 x < 0,5 mm; zylindrisch: 30 mm x < 0,5 mm
  
  

Split-Post Dielectric Resonatoren (SPDR) bei 5, 10 und 15 GHz (v.l.n.r.).

• Probenvorbereitung (zylindrische und Substratproben in den gewünschten Abmessungen)
• Messungen der relativen Dielektrizitätskonstante und des dielektrischen Verlusts bei < 20 GHz
• Temperaturvariable Messungen (-50 bis 100 °C)
• Erstellung von Messberichten